Department分析部門

物理分析

物理分析ではX線や電子線などを用いることで、表面形態、元素分布、結晶構造といった試料における様々な情報を調査しています。

保有設備紹介

電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM)

電子線を試料に照射すると試料表面から様々な情報を持った電子が放出されます。それらの情報を用いることで、試料表面における数十ナノメートルの構造を観察することができます。極表面の情報を得ることができるため、アルミニウム材料の表面形態や組織などの観察を行っています。
透過電子顕微鏡(TEM)

薄片化した試料に電子線を照射し、透過してきた電子を用いることで試料内部の構造を原子レベルの分解能で観察することができます。高分解能での観察が可能なため、アルミニウム材料中の微小な金属間化合物などの観察を行っています。
マイクロフォーカスX線CT

試料に様々な角度からX線を照射し、透過してきたX線を用いることで試料内部の情報を三次元で可視化します。アルミニウム部品などの内部構造や欠陥形状を非破壊で確認することができます。
X線回折装置(XRD)

試料にX線を照射することで起こる回折現象を利用して、試料に含まれている化合物の種類や結晶状態に関する情報を得ることができます。主に粉末や金属に含まれている化合物の同定を行っています。

電子線マイクロアナライザ(EPMA): 試料に電子線を照射するとX線が発生します。このX線を用いることで、マイクロメートルオーダーの局所領域における元素分析を行うことができます。微小領域の元素分析が可能なため、アルミニウム材料中の元素分布や材料中の異物の分析などを行っています。

グロー放電発光分析装置(GD-OES): アルゴンイオンによるスパッタリングで試料表面から原子を弾き出し、その際に発生した光を測定することで深さ方向の元素分析を行うことができます。主にアルミニウム表面に処理された皮膜などの元素分析を行っています。

蛍光X線分析装置(XRF): 試料にX線を照射すると蛍光X線が発生します。この蛍光X線を用いることで試料に含まれている元素の定性・定量分析を行うことができます。適用範囲が広く、固体、液体、粉体などの様々な試料に用いられています。

フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR): 試料に赤外線を照射すると構成分子の振動エネルギーに相当する赤外線が吸収されます。この吸収の程度を調べることで、主に有機化合物の構造を推定することができます。主に塗膜の材質確認や異物の分析を行っています。